Scholars' Press

12866 Товары


Omni badge Efficient Test Data Compression and Fault Analysis in VLSI Circuits

Test Data Compression and Decompression Using Efficient Bitmask and Dictionary Selection Method

Электроника, электротехника, коммуникационные технологии

Scholars' Press (2019-05-31) - ISBN-13: 978-613-8-83430-4

1,625.32 NT$

Adyen::alipay Adyen::paypal Adyen::cup Adyen::diners Adyen::discover Adyen::jcb Adyen::unionpay

  0 продуктов в корзине
Редактировать корзину
Loading frontend
LOADING