Yapısal Kod Klon Analizinde Metrik Kullanımı kitap kapağı
Kitap başlığı:

Yapısal Kod Klon Analizinde Metrik Kullanımı

LAP LAMBERT Academic Publishing (2017-05-16 )

Books loader

Omni badge kupun için uygun
ISBN-13:

978-3-330-08535-0

ISBN-10:
3330085355
EAN:
9783330085350
Kitabın dili:
Özet:
Gereksiz tekrarlanmış kodlar (klonlar) iyi dokümante edilmemiş ve bakımı zor olan kodlardır. Bu tip kodlarda, tespit edilen bir hatanın tüm tekrarlarda düzeltilmesi gerekir. Bu durum yazılım bakım maliyetlerini önemli ölçüde artırdığı gibi kodların okunabilirliği ve anlaşılabilirliği için daha fazla çaba sarf edilmesini de gerektirir. Günümüz literatüründe kod klon problemlerini azaltmak ya da engellemek için birçok teknik önerilmiştir. Bu tekniklerin odağında basit klon ve yapısal klon kod tespiti yer almaktadır. Klon kod’lar iki ana başlık altında incelenmektedir. Yazılım içerisinde kod parçacığının benzerliğinden kaynaklanan kod tekrarlamalarına basit klon adı verilirken, sistem mimarisi içerisinde, aynı yapı ile inşa edilmiş kodlara yapısal klon denmektedir. Basit klon tespit teknikleri, tekrarlanan kod parçacıklarına geniş bir açıdan bakamadıkları için, tasarım seviyesindeki olası tekrarlamalardan kaynaklanan yapısal kod klonlarını saptayamamaktadır. Buradaki eksikliği gidermeyi amaçlayan yapısal klon tespitleri ise, yazılımdaki üst seviye benzerliklerinin ortaya çıkartılması, yeniden kullanılabilirliğin artırılmasıdır.
Yayınevi:
LAP LAMBERT Academic Publishing
Websitesi:
https://www.lap-publishing.com/
Yazar:
Mustafa Kapdan
Sayfa sayısı:
124
Yayın tarihi:
2017-05-16
Hisse:
Mevcut
Kategori:
Fiyat:
49.90 €
Anahtar kelimeler:
code clone, code quality, Metrics, Structural Clone, High Level Clone, Sonarqube

Books loader

Bültenler

Adyen::diners Adyen::jcb Adyen::discover Adyen::amex Adyen::mc Adyen::visa Adyen::cup Adyen::alipay Adyen::unionpay Adyen::paypal Paypal CryptoWallet Banka Havalesi

  Alışveriş sepetinde 0 ürün var
Sepeti yenile
Loading frontend
LOADING